Plastics_9_1_2016

ТЕМА НОМЕРА /НАВСТРЕЧУ ВЫСТАВКЕ К-2016 П Л А С Т И К С № 9 / I ( 1 6 0 ) 2 0 1 6 w w w . p l a s t i c s . r u 33 На стенде компании SIKORA AG впервые будут представлены два новейших устройства для контроля и анализа параметров экстру- зионной продукции. Технология системы CENTERWAVE 6000 осно- вана на базе микроволн и позволяет с высокой точ- ностью измерять диаметр, овальность, толщину стенок, а также контролировать на- плывы на пластмассовых трубах большого размера (диаметр от 120 до 2500 мм) непосредственно при экс- трузии. Толщина слоев многослойных труб также мониторится с высочайшей точностью. Измерения вы- полняются в нескольких точ- ках окружности труб без ис- пользования каких бы то ни было связующих сред и вне зависимости от материала и температуры объекта изме- рения. Калибровка системы не требуется. Модульные устройства PURITY CONCEPT пред- назначены для визуального контроля и анализа гранул, хлопьев, пленок и лент не- посредственно на линии и вне нее. Основой систем является комбинация рент- геновского, инфракрасного или оптического излучения. Она подходит для решения разнообразных задач, в том числе контроля техно- логического процесса на производственной линии, сопутствующего анализа и визуального контроля по- ступающих изделий. Еще одним экспонатом на стенде компании станет система PURITY SCANNER для визуального контроля и сортировки полимерного сырья на линии. Это устрой- ство гарантирует, что на сле- дующий производственный процесс поступает мате- риал лишь самой высо- кой чистоты. Система основана на сочетании рентгеновской техно- логии и оптической измерительной систе- мы. Она позволяет рас- познавать загрязнения размером от 50 мкм как на поверхности, так и внутри пластмассовых гранул. Гранулы с за- грязнениями автоматически отсортировываются. SIKORA Павильон 10, стенд H21 На правах рекламы